La SM-DL permet l'analyse élémentaire d'échantillons solides par évaporation dans une décharge d'argon c.c. à basse pression. Les atomes évaporés sont ionisés dans ce plasma et injectés dans le spectromètre de masse, qui les sépare et les analyse. Lorsque le spectromètre est en mode de haute résolution, cette technique offre un moyen puissant d'analyser les éléments constituants de matières inorganiques présentes en traces ou en ultra-traces. L'analyse des échantillons solides permet d'éviter des techniques à dissolution laborieuses et sujettes aux erreurs comme la spectrométrie de masse à plasma inductif. De plus, la SM-DL de dépend pas de la matrice; un problème de la plupart des autres méthodes d'analyse élémentaire, réduisant ainsi au minimum le besoin d'utiliser des étalons ayant une matrice identique.

Avantages de la SM-DL

• analyse directe des échantillons solides avec un minimum de préparation des échantillons
• couverture intégrale de la concentration des éléments sur neuf ordres de grandeur
• grand pouvoir de détection avec une seule analyse (au niveau des parties par milliard)
• temps d'analyse court (approx. 1 à 1,5 heures, incluant le temps de préparation des échantillons)