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Modélisation géochimique
L'acquisition d'images par SDE

R.D. Knight et R. A. Klassen

La présente section contient la description des deux méthodes utilisées pour obtenir des images à l'aide de techniques et d'instruments à microfaisceau, particulièrement par microscopie électronique à balayage (MEB) et par spectrométrie à dispersion en énergie (SDE). Le grossissement a été réglé afin que le champ d'observation contienne de 50 à 300 particules de la taille des silts (de 0,063 à 0,002 mm). Deux images en électrons rétrodiffusés (ER), à différentes valeurs de grossissement, ont été imprimées. La première, à faible grossissement (entre x 10 et x 15), fournit une vue globale de l'échantillon, y compris le repère en forme de « V » (voir l'image ci-après), alors que la seconde, à plus fort grossissement, sert de plan (ou carte de route) pour retrouver l'emplacement de la région observée en détail. L'image de gauche présente un disque de résine époxy d'environ 1 cm d'épaisseur et de 2,5 cm de diamètre. La forme du disque a été établie en prévision d'analyses subséquentes à l'aide d'un instrument de spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS), qui requiert des échantillons de ce type particulier. Une lame mince standard peut aussi servir d'échantillon. Les lignes tiretées de l'image de droite correspondent au repère en forme de « V » et la section encadrée, à la région examinée pour déterminer la répartition des éléments.

On a choisi dix éléments qui représentent les composants clés des minéraux cardinaux et des minéraux secondaires courants, en accord avec le cadre géologique des échantillons étudiés. Ce sont les éléments suivants : Si, Al, K, Mg, Na, Ca, Fe, Ti, Mn et S.

Méthode 1
Instruments : Cambridge S-360 SEM - Oxford-Link eXLII EDS

Images numériques : 256 x 256 pixels
Durée de balayage : 500 ms/pixel
Grossissement : 125 x
Tension de fonctionnement : 20 keV
Distance de travail : 25 mm
Courant de faisceau : 1,3 nA

Méthode 2
Instruments : Cambridge SEM - Oxford-Link XP2 EDS et 4PI OS

Images numériques : 512 x 512 pixels
Durée de balayage : 50 ms/pixel
Grossissement : 125 x
Tension de fonctionnement : 20 keV
Distance de travail : 25 mm

2005-12-07Avis importants