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Interférométrie électronique (IE) Les nouveaux et très stables MET dotés d’une source d’électrons de haute luminosité permettent d’étudier les phénomènes quantiques produits par les électrons. Ces phénomènes sont intéressants d’un point de vue scientifique, mais les applications pratiques proviendront sans doute de la capacité à mesurer quantitativement l’amplitude et la phase d’une onde d’électrons. La mesure de l’amplitude et de la phase d’une onde d’électrons nous permet de recueillir des renseignements complets sur les interactions élastiques entre le faisceau et l’échantillon. L’IE rend possible la mesure quantitative des potentiels électrostatique et magnétique à une résolution qu’aucune autre technique ne permet d’atteindre. En outre, l’IE est susceptible de réduire la quantité d’échantillon nécessaire à l’imagerie, ce qui constitue un avantage important dans le cas des matériaux sensibles aux rayonnements, par exemple les nanostructures organiques et les catalyseurs. Microscopie électronique à balayage (MEB) La caractérisation par MEB est une technique généralement qualitative. Dans la plupart des cas, on ne peut comparer deux images de façon quantitative, même si elles ont été prises lors de la même séance. Seules quelques techniques (EDX, EBSD) permettent de prendre des mesures semi-quantitatives. L’objectif des recherches sur la MEB à l’INN est de tenter la caractérisation semi-quantitative par MEB. | 
